Microscopia a scansione a forza atomica e ottica in campo prossimo (AFM, SFFM, SNOM). Spettroscopia lineare e nonlineare di nanostrutture con risoluzione sotto lunghezza d'onda. Nano-ottica. Nanolitografia su materiali polimerici.

sviluppo di tecniche di microscopia ottica a campo prossimo ad apertura e a scattering, analisi di topografia e proprietą ottiche locali (10-100 nm); tecniche di manipolazione su scala nanometrica con AFM, mediante polarizzazione elettrica della punta, e SNOM per nanoscrittura ottica e topografica su polimeri fotosensibili.